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您的位置：網(wǎng)站首頁(yè) > 技術(shù)文章 > 雙波段發(fā)射率測(cè)量?jī)x主要技術(shù)指標(biāo) 雙波段發(fā)射率測(cè)量?jī)x型號(hào)：IR-2
可在航天航空紅外隱身、紅外烘烤、建材、造紙、紡織等行業(yè)用于對(duì)材料紅外輻射特性的測(cè)量研究。
發(fā)射率是材料熱物性的基本參數(shù)之一。新型發(fā)射率測(cè)量?jī)x是采用反射率法的測(cè)試原理，即通過(guò)采用主動(dòng)黑體輻射源測(cè)定待測(cè)物表面的法向反射率，進(jìn)而測(cè)出其在特定紅外波段的法向發(fā)射率的。它能測(cè)量常溫樣品在3μm-5μm，8μm-14μm和1μm-22μm三個(gè)波段的發(fā)射率。當(dāng)有特殊需要時(shí)，它可通過(guò)**用的控溫裝置在-100℃~600℃任何溫度范圍內(nèi)加熱或冷卻樣品，從而對(duì)樣品進(jìn)行發(fā)射率變溫測(cè)量。
特點(diǎn)：
1.儀器中裝有小型標(biāo)準(zhǔn)黑體輻射源和六位高精度微機(jī)控溫儀（能顯示到1mK）不僅使它具有穩(wěn)定的寬光譜測(cè)量范圍，而且還**大地提高了其在測(cè)量時(shí)的可靠性和穩(wěn)定性。
2.采用**特的光學(xué)調(diào)制技術(shù)，測(cè)量不受被測(cè)物表面輻射及環(huán)境輻射的影響。
3.為了確保儀器的測(cè)量精度，在儀器設(shè)計(jì)中，考慮到樣品漫反射引起的測(cè)量誤差，除鏡反射（MR）探通道外，還增設(shè)了**門的漫反射（DR）補(bǔ)償通道。
4.在信號(hào)及電子學(xué)處理技術(shù)上采用鎖相技術(shù)和微電子技術(shù)，較好地實(shí)現(xiàn)了對(duì)微弱信號(hào)的探測(cè)，進(jìn)一步提高了儀器性能。
5.操作簡(jiǎn)單，使用方便，測(cè)量速度快。
6.可按需更換濾光片，在多個(gè)紅外光譜波段內(nèi)進(jìn)行測(cè)試。
7.在測(cè)量過(guò)程是不會(huì)損傷被測(cè)樣品。
8.帶RS-232串口及復(fù)位鍵RST。
主要技術(shù)指標(biāo)：
1.測(cè)量波段3～5μm，8～14μm、1～22μm（若用戶有特殊要求，可定制不同波段濾光片）
2.發(fā)射率測(cè)量范圍：0.1～0.99
3.靈敏度NE△ε：0.001
4.示值誤差：±0.02（ε>0.50）
5.重復(fù)性：±0.01
6.樣品溫度：常溫(-100℃～600℃）
7.樣品尺寸：直徑≥50mm
8.測(cè)量時(shí)間：3秒
9.顯示方法：LED數(shù)字顯示，末位0.001
10.電源：交流22V 50Hz
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